Centrul Național de Studiu și Testare a Materialelor

Cercetare, nanotehnologii, microscopie avansată, caracterizarea materialelor și servicii specializate pentru aplicații științifice și tehnologice.

Centrul Național de Studiu și Testare a Materialelor
Conducere

Ion Tighineanu

Director al centrului

Profesor universitar, doctor habilitat, academician

Adresă str. Studenților, 9/7
01

Direcții de activitate

Cercetare – dezvoltare – implementare

  • Elaborarea tehnologiilor avansate de obținere a nanomatricelor semiconductoare și a altor structuri semiconductoare de dimensiuni reduse.
  • Fabricarea nanomembranelor poroase din oxizi TiO₂, Al₂O₃ etc. pe baza suporturilor metalice.
  • Investigații privind proprietățile electrice, optice și fotoelectrice ale materialelor semiconductoare nanostructurate.
  • Dezvoltarea metodelor litografice netradiționale, inclusiv litografia cu sarcină de suprafață.
  • Explorarea proprietăților optice nelineare ale materialelor semiconductoare nanostructurate și aplicații în emițătoare de radiație THz.
  • Explorarea proprietăților fotonice ale nanostructurilor semiconductoare ordonate pentru ghiduri de undă, filtre, lentile și multiplexoare optice.
  • Elaborarea nanocompozitelor metal/semiconductor și metal/dielectric și studiul efectelor plasmonice.
  • Dezvoltarea materialelor compozite organice/anorganice și a dispozitivelor optoelectronice în baza acestora.
  • Elaborarea dispozitivelor micro-optoelectronice și nanoelectronice: microlasere, nanolasere, nanosenzori de radiație, senzori de gaze și senzori biologici.

Infrastructură națională în nanomateriale și nanotehnologii

  • Servicii în domeniul microscopiei electronice și microscopiei de forță atomică.
  • Servicii pentru studiul proprietăților electrice, optice și fotoelectrice ale nanomaterialelor.
  • Colaborare interdisciplinară cu domenii precum construcția de mașini, chimie, biologie, farmaceutică și medicină.
02

Proiecte

01

Development of maskless lithographical approaches for 2D and 3D nanostructuring of III-V and II-VI semiconductor compounds.

02

Development of 2D and 3D metallo-dielectric periodic structures for photonic and optoelectronic applications.

03

Development of random lasers based on porous and disordered nanomaterials.

04

Plasmonics and optical phonon engineering at the nanoscale.

05

New sensor technologies based on wide band gap semiconductor compounds.

03

Infrastructura CNSTM

01

Microscop Electronic VEGA TS 5130

Morfologia suprafeței și analiza chimică a materialelor solide.

Microscopie Electronică · bir. 324
02

Microscop de Forță Atomică (AFM)

Topologia și modelarea 3D a suprafeței probelor, cu rezoluție de 5 nm.

Microscopie de Forță Atomică · bir. 322
03

Sistem Cylos 160 RIE

Decapare uscată în plasmă și depunere de pelicule subțiri de SiO₂.

Fotolitografie · bir. 319
04

Echipament fotolitografie Karl Süss AG

Transferul designului circuitului de pe fotomască pe plachete sau probe.

Fotolitografie · bir. 319
05

Microscop Optic Zeiss Axio Scope.A1

Investigații optice cu captură digitală și înregistrare video.

Fotolitografie · bir. 319
06

Sistem SiPor R&D Etching Setup

Corodarea materialelor semiconductoare și conductoare cu controlul parametrilor de proces.

Nanostructurare electrochimică · bir. 317
07

Cressington Carbon / Sputter Coater

Depunerea straturilor subțiri de C, Au, Pt și Ag, cu grosimi de 10–50 nm.

Microscopie de Forță Atomică · bir. 322
08

Keithley 2400 / 6430 + Criostat ARS-DE202

Caracterizarea electrică a probelor în intervalul 10–350 K.

Caracterizări optice și fotoelectrice · bir. 326
09

Spin Coater CS-05

Depunerea filmelor subțiri prin centrifugare, până la 7000 rpm.

Fotolitografie · bir. 319
10

Nd:YAG Laser LP-603

Laser în impulsuri cu reglarea lungimii de undă în domeniul vizibil 410–700 nm.

Caracterizări optice și fotoelectrice · bir. 326
11

Drop Shape Analyzer Krüss DSA25

Determinarea unghiului de contact în regim static și dinamic, 0–180°.

Nanostructurare electrochimică · bir. 317
05

Consultații, expertize și servicii

01

Microscopie electronică

Studiul morfologiei suprafeței probelor și analiza chimică nedestructivă a materialelor.

Responsabili: Eduard Monaico, Tudor Braniște, Vladimir Ciobanu
eduard.monaico@cnstm.utm.md
02

Microscopie de forță atomică

Studiul topografiei suprafeței probelor, scanare Contact / Non-Contact și modelare 3D.

Responsabili: Tudor Braniște, Vladimir Ciobanu, Elena Monaico
tudor.braniste@cnstm.utm.md
03

Fotolitografie și pelicule subțiri

Transfer fotolitografic, tratări în plasmă și depunerea straturilor subțiri de SiO₂.

Responsabili: Tudor Braniște, Vladimir Ciobanu
tudor.braniste@cnstm.utm.md
04

Nanostructurare electrochimică

Nanostructurarea materialelor conductoare și semiconductoare în regim potențiostat sau galvanostat.

Responsabil: Eduard Monaico
eduard.monaico@cnstm.utm.md
05

Caracterizare electrică și fotoelectrică

Caracterizarea materialelor în intervalul de temperaturi 10–350 K folosind sisteme Keithley și criostat ARS-DE202.

Responsabili: Victor Zalamai, Vitalie Postolache
vitalie.postolache@cnstm.utm.md